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晶圓表面瑕疵檢測|自動化瑕疵檢測儀

文章出處:網責任編輯:作者:人氣:-發表時間:2021-07-20 22:28:00

晶圓是通過硅錠一片片切割而來,硅錠的瑕疵不在此一一細數,本文主要講述晶圓在切割后產生的瑕疵。晶圓在切割完成后需要進行移動以及保存,在操作的過程中如果保護措施未做足就很容易在其表面留下劃痕或者污漬,還有可能在加工時在晶圓表面留下一些塵屑和污漬,這會導致晶圓會被誤判為不良品或者繼續使用后發生不良情況。晶圓可以進行后續的修復工序,但是如何檢測和發現晶圓的表面瑕疵則成為了一個大問題,用人工檢測的方式會花費大量的時間以及精力,所以使用自動瑕疵檢測儀進行晶圓表面的瑕疵檢測勢在必行。

海科思瑕疵檢測機采用的是流水線設計,可以手動調節檢測速度,配合晶圓加工生產線完成自動化檢測,還可以根據實際需求調節晶圓瑕疵的檢測精度完成不同的瑕疵同時檢測的要求。瑕疵檢測系統采用的機器視覺算法,將工件的物體輪廓由工業相機形成彩色圖像,面特征數字建模抽取全部邊緣輪廓,進行分析工件表面特征機器視覺算法匹配直接輸出NGOK信號,對比傳統的人工檢測節省大量的時間與精力。

海科思瑕疵檢測儀可對應不同的工件與需求進行配置和系統的修改,如需詳細了解技術參數,歡迎致電:400-0528-668

此文關鍵字:瑕疵檢測儀   金屬瑕疵檢測儀   玻璃瑕疵檢測儀
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